BQ24715RGRR VQFN-20 package
BQ24715RGRR VQFN-20 package
Texas Instruments

BQ24715RGRR - Texas Instruments RF-integrerede kredsløb

In stock
SKU: BQ24715RGRR-VQFN-20
(0)
$0.67
Når du har afgivet en ordre, sender vores salgsteam en skriftlig bekræftelse på den endelige pris, forsendelsesomkostninger og forventet leveringstid. Importafgifter, skatter, mæglergebyrer og andre destinationsafgifter er kundens ansvar. Når det er nødvendigt, kan vi hjælpe med tilgængelig produktinformation og tolddokumenter til importangivelse; endelig toldbehandling og betaling forbliver kundens ansvar.

BQ24715RGRR

8A(Max) 4.096V 6V 14.5V 24V SMBus elektrisk elektrisk controller elektrisk VQFN-20 overflademontering, klæbemontering 1mm(høj)

Tilgængelig lagerbeholdning: 3555VQFN-20Aktiv
ProducentTexas Instruments
PakkeVQFN-20
Lager3555
Standardpakke3000

Priser & bestilling

Stykpris$0.6695

Grundlæggende information

Producent Texas Instruments
Producentens varenummer BQ24715RGRR
IC-kategori RF-integrerede kredsløb
Pakke VQFN-20
Livscyklusstatus Aktiv

Tekniske egenskaber

Batterikemi Lithium-ion
Antal celler 2 ~ 3
Strøm - opladning -
Programmerbare funktioner -
Fejlbeskyttelse -
Opladningsstrøm - maks. -
Batteripakkespænding -
Spænding - forsyning (maks.) 24V
Interface SMBus
Driftstemperatur -
Monteringstype Overflademontering
Pakke / kapsel 20-VFQFN Exposed Pad
Leverandørens enhedspakke 20-VQFN (3.5x3.5)

Lager og priser opdateres regelmæssigt. Tekniske data er angivet til ingeniørmæssig reference.

Datablad

Download PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles