W25Q512JVEIQ - Winbond Minne (IC-kretsar)

In stock
Regular price $10.89
Volymrabatter
QuantityUnit Price
20+$10.40
200+$9.10
600+$8.31
2000+$7.65
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

Integrerad krets

W25Q512JVEIQ TR

FLASH - NOR-minneskrets 512Mbit SPI 133MHz WSON-8(6x8)

I lager WSON-8(6x8) normal
Styckpris$11.3427
I lager
TillverkareWinbond
KapselWSON-8(6x8)
Lager4360
FörpackningTape & Reel (TR)

Grundläggande information

Tillverkare Winbond
Tillverkarens artikelnummer W25Q512JVEIQ TR
Beskrivning FLASH - NOR-minneskrets 512Mbit SPI 133MHz WSON-8(6x8)
IC-kategori Minne (ICs)
Kapsel WSON-8(6x8)
Förpackning Tape & Reel (TR)
Standardförpackningskvantitet 4000
Tillgängligt lager 4360
Tillgänglighet I lager
Livscykelstatus normal

Nyckelspecifikationer

Spänning - matning 2.7V~3.6V
Minnesstorlek 512Mbit
Arbetstemperatur -40℃~+85℃
Program-/raderingscykler 100,000 cykler
Klockfrekvens 133MHz
Egenskaper Skrivaktiveringsspärr;Återställning vid påslagning;Hårdvaruskrivskydd;Mjukvaruskrivskydd;Absolut skrivskydd;Strömlåsningsskydd
Datalagring - TDR (år) 20 år

Tekniska attribut

Blockraderingstid (tBE) -
Skrivcykeltid (tWC) -
Sidprogrammeringstid (Tpp) -
Viloströmförsörjning -
Gränssnitt SPI

Dokument & tekniska resurser

Lager, ledtid och prissättning uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls för teknisk referens.

Datablad

Ladda ner PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles