MCP4661T-502E/ML QFN-16-EP (4x4mm) package
MCP4661T-502E/ML QFN-16-EP (4x4mm) package
Microchip Technology

MCP4661T-502E/ML - Microchip Technology Litar Bersepadu RF

In stock
SKU: MCP4661T-502E-ML-QFN-16-EP
(0)
$1.76
Selepas anda membuat pesanan, pasukan jualan kami akan menghantar pengesahan bertulis tentang harga akhir, caj penghantaran dan anggaran masa utama penghantaran. Duti import, cukai, yuran pembrokeran dan caj destinasi lain adalah tanggungjawab pelanggan. Apabila diperlukan, kami boleh membantu dengan maklumat produk yang tersedia dan dokumen kastam untuk pengisytiharan import; pelepasan kastam akhir dan pembayaran tetap menjadi tanggungjawab pelanggan.

MCP4661T-502E/ML

2.5µA ±150ppm/℃ baris 5KOhm 257 2 1.8V Tidak Meruap 5.5V Potensiometer I²C QFN-16-EP (4x4mm) lekapan permukaan, lekapan pelekat 4mm*4mm*880µm

Stok Tersedia: 4553QFN-16-EP (4x4mm)Aktif
PengeluarMicrochip Technology
PakejQFN-16-EP (4x4mm)
Stok4553
Pek Standard1

Harga & Pesanan

Harga Seunit$1.7595

Maklumat Asas

Pengeluar Microchip Technology
Nombor Bahagian Pengeluar MCP4661T-502E/ML
Kategori IC Analog & Isyarat Campuran
Pakej QFN-16-EP (4x4mm)
Status Kitaran Hayat Aktif

Atribut Teknikal

Voltan Bekalan 1.8V
Pakej QFN-16
Dimensi 4mm×4mm
Parameter Sumber 2.5µA ±150ppm/℃ baris 5KOhm 257 2 1.8V Potensiometer I²C Tidak Meruap 5.5V QFN-16-EP (4x4mm) lekapan permukaan, lekapan pelekat 4mm*4mm*880µm

Inventori dan harga dikemas kini secara berkala. Data teknikal disediakan untuk rujukan kejuruteraan.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles