AT45DB041E-SSHN-T - Renesas Electronics Minne (IC-er)

In stock
Regular price $1.50
Volumrabatter
QuantityUnit Price
1+$1.31
10+$1.09
30+$0.98
100+$0.84
500+$0.74
1000+$0.71
Etter at du har lagt inn en bestilling, sender salgsteamet vårt skriftlig bekreftelse på den endelige prisen, fraktkostnader og estimert leveringstid. Importavgifter, skatter, megleravgifter og andre destinasjonsgebyrer er kundens ansvar. Ved behov kan vi bistå med tilgjengelig produktinformasjon og tolldokumenter for importdeklarasjon; endelig fortolling og betaling forblir kundens ansvar.

Integrert krets

AT45DB041E-SSHN-T

4Mbit 1.65V~3.6V 85MHz SPI SOIC-8 Minne (IC-er) RoHS

På lager SOIC-8 normal
Enhetspris$1.3094
På lager
ProdusentRENESAS
PakkeSOIC-8
Lager5948
PakkeTape & Reel (TR)

Grunnleggende informasjon

Produsent RENESAS
Produsentens delenummer AT45DB041E-SSHN-T
Beskrivelse 4Mbit 1.65V~3.6V 85MHz SPI SOIC-8 Minne (IC-er) RoHS
IC-kategori Minne (IC-er)
Pakke SOIC-8
Emballasje Tape & Reel (TR)
Standard pakkeantall 4000
Tilgjengelig lager 5948
Tilgjengelighet På lager
Livssyklusstatus normal

Nøkkelspesifikasjoner

Minnekapasitet 4Mbit
Spenning - forsyning 1.65V~3.6V
Driftstemperatur -
Programmerings-/slettesykluser 100,000 sykluser
Klokkefrekvens 85MHz
Egenskaper Strøm-på-reset;Maskinvarebeskyttelse mot skriving;Programvarebeskyttelse mot skriving;Absolutt skrivebeskyttelse
Datalagring - TDR (år) 20 år

Tekniske egenskaper

Blokkslettetid (tBE) -
Skrivesyklustid (tWC) -
Sideprogrammeringstid (Tpp) -
Hvilemodus forsyningsstrøm 25uA
Grensesnitt SPI

Dokumenter & ingeniørressurser

Lagerbeholdning, ledetid og priser oppdateres jevnlig. Tekniske data er oppgitt som referanse for ingeniører.

Datablad

Last ned PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles