W25Q256JWEIQ - Winbond Minne (IC-er)

In stock
Regular price $8.53
Volumrabatter
QuantityUnit Price
50+$6.05
500+$4.96
1500+$4.48
5000+$4.07
Etter at du har lagt inn en bestilling, sender salgsteamet vårt skriftlig bekreftelse på den endelige prisen, fraktkostnader og estimert leveringstid. Importavgifter, skatter, megleravgifter og andre destinasjonsgebyrer er kundens ansvar. Ved behov kan vi bistå med tilgjengelig produktinformasjon og tolldokumenter for importdeklarasjon; endelig fortolling og betaling forblir kundens ansvar.

Integrert krets

W25Q256JWEIQ

FLASH - NOR-minnekrets 256Mbit SPI 133MHz WSON-8-EP(6x8)

På lager WSON-8-EP(6x8) normal
Stykkpris$6.2714
På lager
ProdusentWinbond
PakkeWSON-8-EP(6x8)
Lager924
PakkeBrett

Grunnleggende informasjon

Produsent Winbond
Produsentens delenummer W25Q256JWEIQ
Beskrivelse FLASH - NOR-minnekrets 256Mbit SPI 133MHz WSON-8-EP(6x8)
IC-kategori Minne (IC-er)
Pakke WSON-8-EP(6x8)
Emballasje Brett
Standard pakkeantall 480
Tilgjengelig lager 924
Tilgjengelighet På lager
Livssyklusstatus normal

Nøkkelspesifikasjoner

Spenning - forsyning 1.7V~1.95V
Minne størrelse 256Mbit
Driftstemperatur -40℃~+85℃
Program / Slett sykluser 100,000 sykluser
Klokkefrekvens 133MHz
Egenskaper Skriveaktiveringslås;Strøm-på-reset;Maskinvare skrivebeskyttelse;Programvare skrivebeskyttelse;Absolutt skrivebeskyttelse;Strømlås beskyttelse
Datalagring - TDR (år) 20 år

Tekniske attributter

Blokkslettingstid(tBE) 200ms@(64KB)
Skrivesyklustid(tWC) -
Sideprogrammeringstid (Tpp) 800us
Hvile-strømforsyning 10uA
Grensesnitt SPI

Dokumenter & ingeniørressurser

Lagerbeholdning, ledetid og priser oppdateres jevnlig. Tekniske data er gitt for ingeniørreferanse.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles