AT45DB321E-SHF-T - Renesas Electronics Minne (IC-kretsar)

In stock
Regular price $2.15
Volymrabatter
QuantityUnit Price
1+$2.14
10+$1.75
30+$1.59
100+$1.38
500+$1.29
1000+$1.24
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

Integrerad krets

AT45DB321E-SHF-T

32Mbit 2.3V~3.6V 85MHz SPI SOIC-8-208mil Minne (ICs) RoHS

I lager SOIC-8-208mil normal
Styckpris$2.1367
I lager
TillverkareRENESAS
KapselSOIC-8-208mil
Lager7122
FörpackningTape & Reel (TR)

Grundläggande information

Tillverkare RENESAS
Tillverkarens artikelnummer AT45DB321E-SHF-T
Beskrivning 32Mbit 2.3V~3.6V 85MHz SPI SOIC-8-208mil Minne (ICs) RoHS
IC-kategori Minne (ICs)
Kapsel SOIC-8-208mil
Förpackning Tape & Reel (TR)
Standardförpackningskvantitet 2000
Tillgängligt lager 7122
Tillgänglighet I lager
Livscykelstatus normal

Nyckelspecifikationer

Minnesstorlek 32Mbit
Spänning - matning 2.3V~3.6V
Arbetstemperatur -
Programmerings-/raderingscykler 100,000 cykler
Klockfrekvens 85MHz
Egenskaper Power-on reset;Hårdvaruskrivskydd;Mjukvaruskrivskydd;Absolut skrivskydd
Datalagring - TDR (år) 20 år

Tekniska attribut

Blockraderingstid (tBE) -
Skrivcykeltid (tWC) -
Sidprogrammeringstid (Tpp) 4ms
Standby-matningsström 25uA
Gränssnitt SPI

Dokument & tekniska resurser

Lager, ledtid och prissättning uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls för teknisk referens.

Datablad PDF

Öppna datablad PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles