BY25Q32ESSIG - BOYAMICRO Minne (IC-kretsar)

In stock
Regular price $0.65
Volymrabatter
QuantityUnit Price
1+$0.65
10+$0.53
30+$0.47
95+$0.41
475+$0.37
1045+$0.36
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

Integrerad krets

BY25Q32ESSIG

32Mbit 2.7V~3.6V 120MHz SPI SOP-8-208mil Minne (ICs) RoHS

I lager SOP-8-208mil normal
Styckpris$0.6531
I lager
TillverkareBOYAMICRO
KapselSOP-8-208mil
Lager13809
FörpackningRörförpackad

Grundläggande information

Tillverkare BOYAMICRO
Tillverkarens artikelnummer BY25Q32ESSIG
Beskrivning 32Mbit 2.7V~3.6V 120MHz SPI SOP-8-208mil Minne (ICs) RoHS
IC-kategori Minne (ICs)
Kapsel SOP-8-208mil
Förpackning Rörförpackad
Standardförpackningskvantitet 95
Tillgängligt lager 13809
Tillgänglighet I lager
Livscykelstatus normal

Nyckelspecifikationer

Minnesstorlek 32Mbit
Spänning - matning 2.7V~3.6V
Arbetstemperatur -
Program-/raderingscykler 100,000 cykler
Klockfrekvens 120MHz
Egenskaper Skrivaktiveringsspärr;Återställning vid påslagning;Hårdvaruskrivskydd;Mjukvaruskrivskydd;Absolut skrivskydd
Datalagring - TDR (år) 20 år

Tekniska attribut

Blockraderingstid (tBE) -
Skrivcykeltid (tWC) -
Sidprogrammeringstid (Tpp) 450us
Viloströmförsörjning 2uA
Gränssnitt SPI

Dokument & tekniska resurser

Lager, ledtid och prissättning uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls för teknisk referens.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles