MT41K256M16TW-107:P - micron Minne (IC-kretsar)

In stock
Regular price $24.32
Volymrabatter
QuantityUnit Price
1+$22.00
10+$21.05
30+$19.39
100+$17.10
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

Integrerad krets

MT41K256M16TW-107:P

4Gbit 1.283V~1.45V 933MHz DDR3L SDRAM FBGA-96(8x14) Minne (ICs) RoHS

I lager FBGA-96(8x14) normal
Styckpris$22.0023
I lager
Tillverkaremicron
KapselFBGA-96(8x14)
Lager1512
FörpackningTape & Reel (TR)

Grundläggande information

Tillverkare micron
Tillverkarens artikelnummer MT41K256M16TW-107:P
Beskrivning 4Gbit 1.283V~1.45V 933MHz DDR3L SDRAM FBGA-96(8x14) Minne (ICs) RoHS
IC-kategori Minne (ICs)
Kapsel FBGA-96(8x14)
Förpackning Tape & Reel (TR)
Standardförpackningskvantitet 2000
Tillgängligt lager 1512
Tillgänglighet I lager
Livscykelstatus normal

Nyckelspecifikationer

Uppdateringsström 15mA
Minnesstorlek 4Gbit
Spänning - matning 1.283V~1.45V
Arbetstemperatur 0℃~+95℃
Klockfrekvens 933MHz
Egenskaper Automatisk självuppdatering;Automatisk förladdningsfunktion;Asynkron återställningsfunktion;Datamaskeringsfunktion;Write leveling-funktion;Dynamisk on-chip-terminering;ZQ-kalibreringsfunktion
Minnesformat DDR3L SDRAM

Tekniska attribut

Ström - matning 32mA

Dokument & tekniska resurser

Lager, ledtid och prissättning uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls för teknisk referens.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles