TMS320DM6437ZDUQ4 BGA-376 (ZDU) logo-free package illustration
TMS320DM6437ZDUQ4 BGA official package render
TMS320DM6437ZDUQ4 BGA-376 (ZDU) logo-free package illustration
TMS320DM6437ZDUQ4 BGA official package render
Texas Instruments

TMS320DM6437ZDUQ4 - Texas Instruments Integrerade kretsar och chip

In stock
SKU: TMS320DM6437ZDUQ4-BGA-376
(0)
$33.26
När du har lagt en beställning kommer vårt säljteam att skicka en skriftlig bekräftelse på det slutliga priset, fraktkostnader och beräknad leveranstid. Importtullar, skatter, mäklaravgifter och andra destinationsavgifter är kundens ansvar. Vid behov kan vi bistå med tillgänglig produktinformation och tulldokument för importdeklaration; slutlig tullklarering och betalning förblir kundens ansvar.

TMS320DM6437ZDUQ4

TMS320DM6437ZDUQ4 integrerad krets för konstruktion och inköp.

Tillgängligt lager: 56BGA-376 (ZDU)Aktiv
TillverkareTexas Instruments
KapselBGA-376 (ZDU)
Lager56
Standardförpackning1

Grundläggande information

Tillverkare Texas Instruments
Tillverkarens artikelnummer TMS320DM6437ZDUQ4
IC-kategori Integrerade kretsar & chips
Kapsel BGA-376 (ZDU)
Livscykelstatus Aktiv

Tekniska egenskaper

Tekniska data Finns i det länkade databladet.

Lager och priser uppdateras regelbundet. Tekniska data tillhandahålls som referens för konstruktion.

Kapsel: BGA-376 (ZDU); 376 stift. Verifierad för TMS320DM6437ZDUQ4 mot tillverkarens kapselinformation. Bilden är en representativ kapselillustration, inte en referens för stiftplacering eller mekanisk konstruktion.

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles