MT25QU512ABB1EW9-0SIT - micron Muisti (IC-piirit)

In stock
Regular price $28.48
Volyymi-alennukset
QuantityUnit Price
1+$28.48
30+$27.07
Kun olet tehnyt tilauksen, myyntitiimimme lähettää kirjallisen vahvistuksen lopullisesta hinnasta, toimituskuluista ja arvioidusta toimitusajasta. Tuontitullit, verot, välityspalkkiot ja muut kohdemaksut ovat asiakkaan vastuulla. Autamme tarvittaessa saatavilla olevien tuotetietojen ja tuonti-ilmoitusten tulliasiakirjojen kanssa; Lopputullaus ja maksu jäävät asiakkaan vastuulle.

Integrated Circuit

MT25QU512ABB1EW9-0SIT

FLASH - NOR Memory IC 512Mbit SPI 166MHz WPDFN-8(6x8)

Varastossa WPDFN-8(6x8) normaali
Yksikköhinta$28.4816
Varastossa
Valmistajamicron
PakettiWPDFN-8(6x8)
Varasto305
PakkausTape & Reel (TR)

Perustiedot

Valmistaja micron
Valmistajan osanumero MT25QU512ABB1EW9-0SIT
Kuvaus FLASH - NOR Memory IC 512Mbit SPI 166MHz WPDFN-8(6x8)
IC-luokka Muisti (IC:t)
Paketti WPDFN-8(6x8)
Pakkaus Tape & Reel (TR)
Vakiopakkausmäärä 4000
Saatavilla oleva varasto 305
Saatavuus Varastossa
Elinkaaren tila normaali

Keskeiset tekniset tiedot

Jännite - Syöttö 1.7V~2V
Muistin koko 512Mbit
Käyttölämpötila -40℃~+85℃
Ohjelma- / pyyhintäsyklit 100,000 cycles
Kellotaajuus 166MHz
Ominaisuudet Write enable latch;Power-on reset;Hardware write protection;Software write protection;Absolute write protection
Tietojen säilyvyys - TDR (vuotta) 20 Years

Tekniset ominaisuudet

Lohkon pyyhintäaika (tBE) -
Kirjoitussyklin aika (tWC) -
Sivun ohjelmointiaika (Tpp) 120us
Valmiustilan syöttövirta -
Liitäntä SPI

Asiakirjat & suunnitteluresurssit

Varastotiedot, toimitusaika ja hinnoittelu päivitetään säännöllisesti. Tekniset tiedot on tarkoitettu suunnittelun tueksi.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles