AT45DB161E-SHD-T - Renesas Electronics Geheugen-IC's

In stock
SKU: AT45DB161E-SHD-T-SOIC-8
Regular price $1.83
Nadat u een bestelling heeft geplaatst, stuurt ons verkoopteam een ​​schriftelijke bevestiging van de uiteindelijke prijs, verzendkosten en geschatte levertijd. Invoerrechten, belastingen, makelaarskosten en andere bestemmingskosten zijn de verantwoordelijkheid van de klant. Indien nodig kunnen wij u helpen met beschikbare productinformatie en douanedocumenten voor aangifte ten invoer; de uiteindelijke inklaring en betaling blijven de verantwoordelijkheid van de klant.

AT45DB161E-SHD-T

2MB 2 M x 8 2.5V 22mA 3.6V 70MHz SPI 8bit SOIC-8 oppervlaktebevestiging, lijmbevestiging 2.16mm(high)

Beschikbare voorraad: 7653SOIC-8Beschikbaarheid controleren
FabrikantRenesas Electronics
BehuizingSOIC-8
Voorraad7653
Standaardverpakking2000

Prijzen & bestellen

Prijs per stuk$1.8279

Basisinformatie

Fabrikant Renesas Electronics
Fabrikantonderdeelnummer AT45DB161E-SHD-T
IC-categorie Geïntegreerde geheugenschakelingen
Behuizing SOIC-8
Levenscyclusstatus Beschikbaarheid controleren

Technische kenmerken

Programmeerbaar Geverifieerd
Geheugentype Niet-vluchtig
Geheugenformaat FLASH
Technologie FLASH
Geheugengrootte 16Mbit
Geheugenorganisatie 528 Bytes x 4096 pagina's
Geheugeninterface SPI
Klokfrequentie 85 MHz
Schrijftijd - woord, pagina 8µs, 4ms
Spanning - voeding 2.5V ~ 3.6V
Bedrijfstemperatuur -40 degC ~ 85 degC (TC)
Montagetype Oppervlaktemontage
Behuizing / case 8-SOIC (0.209", 5.30mm breedte)
Leveranciersbehuizing 8-SOIC

Documenten & technische bronnen

Voorraad en prijzen worden regelmatig bijgewerkt. Technische gegevens zijn bedoeld als technische referentie.

Datasheet

PDF downloaden

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles