BQ25176JDSGR - Texas Instruments RF-geïntegreerde schakelingen

In stock
SKU: BQ25176JDSGR
Regular price $0.77
Nadat u een bestelling heeft geplaatst, stuurt ons verkoopteam een ​​schriftelijke bevestiging van de uiteindelijke prijs, verzendkosten en geschatte levertijd. Invoerrechten, belastingen, makelaarskosten en andere bestemmingskosten zijn de verantwoordelijkheid van de klant. Indien nodig kunnen wij u helpen met beschikbare productinformatie en douanedocumenten voor aangifte ten invoer; de uiteindelijke inklaring en betaling blijven de verantwoordelijkheid van de klant.

BQ25176JDSGR

3V 3V 4.4V 25V 30V oppervlaktemontage, lijmmontage 2mm()*2mm(breed)

Beschikbare voorraad: 135301IC-behuizingActief
FabrikantTexas Instruments
BehuizingIC-behuizing
Voorraad135301
Standaardverpakking-

Prijzen & bestellen

Prijs per stuk$0.7729

Basisinformatie

Fabrikant Texas Instruments
Fabrikantonderdeelnummer BQ25176JDSGR
IC-categorie RF-geïntegreerde schakelingen
Behuizing IC-behuizing
Levenscyclusstatus Actief

Technische eigenschappen

Batterijchemie Multi-chemie
Aantal cellen 1
Stroom - Opladen Constant - Programmeerbaar
Programmeerbare functies Stroom, Timer, Spanning
Foutbeveiliging Overstroom, Overtemperatuur, Over-onderspanning, Kortsluiting
Laadstroom - Max 800mA
Accupackspanning 4.4V (Max)
Spanning - Voeding (Max) 25V
Interface -
Bedrijfstemperatuur -40 degC ~ 125 degC (TJ)
Kwaliteitsklasse -
Kwalificatie -
Montagetype Oppervlaktemontage
Behuizing / Case 8-WFDFN Exposed Pad
Leveranciersapparaatbehuizing 8-WSON (2x2)

Documenten & Engineering Resources

Voorraad en prijzen worden regelmatig bijgewerkt. Technische gegevens worden verstrekt voor technische referentie.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles