CD40175BM - Texas Instruments RF-geïntegreerde schakelingen

In stock
SKU: CD40175BM-SOIC-16
Regular price $0.66
Nadat u een bestelling heeft geplaatst, stuurt ons verkoopteam een ​​schriftelijke bevestiging van de uiteindelijke prijs, verzendkosten en geschatte levertijd. Invoerrechten, belastingen, makelaarskosten en andere bestemmingskosten zijn de verantwoordelijkheid van de klant. Indien nodig kunnen wij u helpen met beschikbare productinformatie en douanedocumenten voor aangifte ten invoer; de uiteindelijke inklaring en betaling blijven de verantwoordelijkheid van de klant.

CD40175BM

4µA 120ns@ 15V,50pF, 1 3V 18V 6.8mA Master Reset CD4000 CMOS 5pF 6.8mA 14MHz SOIC-16 oppervlaktemontage 9.9mm*3.91mm*1.58mm

Beschikbare voorraad: 6300SOIC-16Obsolete
FabrikantTexas Instruments
PakketSOIC-16
Voorraad6300
Standaardverpakking-

Prijzen & Bestellen

Prijs per stuk$0.6582

Basisinformatie

Fabrikant Texas Instruments
Fabrikantonderdeelnummer CD40175BM
IC-categorie RF-geïntegreerde schakelingen
Pakket SOIC-16
Levenscyclusstatus Obsolete

Technische eigenschappen

Functie Master Reset
Type D-Type
Uitgangstype Complementair
Aantal elementen 1
Aantal bits per element 4
Klokfrequentie 14 MHz
Max. propagatievertraging @ V, max. CL 120ns @ 15V, 50pF
Triggertype Positieve flank
Stroom - uitgang hoog, laag 6.8mA, 6.8mA
Spanning - voeding 3V ~ 18V
Stroom - rust (Iq) 4 µA
Ingangscapaciteit 5 pF
Bedrijfstemperatuur -55 degC ~ 125 degC (TA)
Montagetype Oppervlaktemontage
Leveranciersapparaatbehuizing 16-SOIC
Behuizing / case 16-SOIC (0.154", 3.90mm breedte)

Voorraad en prijzen worden regelmatig bijgewerkt. Technische gegevens zijn bedoeld voor technische referentie.

Datasheet PDF

Datasheet PDF openen

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles