SN74ALS533ADW SOIC-20 package
SN74ALS533ADW SOIC-20 package
Texas Instruments

SN74ALS533ADW - Texas Instruments RF-integrerte kretser

In stock
SKU: SN74ALS533ADW-SOIC-20
(0)
$3.04
Etter at du har lagt inn en bestilling, sender salgsteamet vårt skriftlig bekreftelse på den endelige prisen, fraktkostnader og estimert leveringstid. Importavgifter, skatter, megleravgifter og andre destinasjonsgebyrer er kundens ansvar. Ved behov kan vi bistå med tilgjengelig produktinformasjon og tolldokumenter for importdeklarasjon; endelig fortolling og betaling forblir kundens ansvar.

SN74ALS533ADW

6ns 1 4.5V 5.5V 24mA D-Type Transparent Latch ALS 1 2.6mA SOIC-20 surface mount 12.8mm*7.52mm*2.35mm

Tilgjengelig lager: 7932SOIC-20Aktiv
ProdusentTexas Instruments
PakkeSOIC-20
Lager7932
Standardpakning1

Priser & bestilling

Enhetspris$3.0379

Grunnleggende informasjon

Produsent Texas Instruments
Produsentens delenummer SN74ALS533ADW
IC-kategori RF-integrerte kretser
Pakke SOIC-20
Livssyklusstatus Aktiv

Tekniske egenskaper

Logikktype D-Type Transparent Latch
Krets 8:8
Utgangstype Tri-State
Spenning - forsyning 4.5V ~ 5.5V
Uavhengige kretser 1
Forsinkelsestid - forplantning 6ns
Strøm - utgang høy, lav 2.6mA, 24mA
Driftstemperatur 0 degC ~ 70 degC
Monteringstype Overflatemontering
Kapsel / tilfelle 20-SOIC (0.295", 7.50mm bredde)
Leverandørens enhetskapsel 20-SOIC

Dokumenter & ingeniørressurser

Datablad PDF

Lager og priser oppdateres jevnlig. Tekniske data er oppgitt for ingeniørmessig referanse.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles