TLV314IDBVT SOT-23-5 package
TLV314IDBVT SOT-23-5 package
Texas Instruments

TLV314IDBVT - Texas Instruments RF-integrerte kretser

In stock
SKU: TLV314IDBVT-SOT-23-5
(0)
$0.35
Etter at du har lagt inn en bestilling, sender salgsteamet vårt skriftlig bekreftelse på den endelige prisen, fraktkostnader og estimert leveringstid. Importavgifter, skatter, megleravgifter og andre destinasjonsgebyrer er kundens ansvar. Ved behov kan vi bistå med tilgjengelig produktinformasjon og tolldokumenter for importdeklarasjon; endelig fortolling og betaling forblir kundens ansvar.

TLV314IDBVT

0.005% Rail to Rail ±2.75V, 5.5V CMOS SOT-23-5 overflatemontert, klebemontert

Tilgjengelig lager: 607SOT-23-5Aktiv
ProdusentTexas Instruments
PakkeSOT-23-5
Lager607
Standardpakning250

Priser & bestilling

Enhetspris$0.3460

Grunnleggende informasjon

Produsent Texas Instruments
Produsentens delenummer TLV314IDBVT
IC-kategori RF-integrerte kretser
Pakke SOT-23-5
Livssyklusstatus Aktiv

Tekniske egenskaper

Forsterkertype CMOS
Antall kretser 1
Utgangstype Rail-til-rail
Slew Rate 1.5V/µs
Forsterknings-båndbreddeprodukt 3 MHz
Strøm - inngangsbias 1 pA
Spenning - inngangsoffset 750 µV
Strøm - forsyning 150µA
Spenning - forsyningsspenn (min) 1.8 V
Spenning - forsyningsspenn (maks) 5.5 V
Driftstemperatur -40 degC ~ 125 degC
Monteringstype Overflatemontering
Kapsel / tilfelle SC-74A, SOT-753
Leverandørens enhetskapsel SOT-23-5

Lager og priser oppdateres jevnlig. Tekniske data er oppgitt for ingeniørmessig referanse.

Datasheet PDF

Open PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

Manufacturer names and logos are used for product identification and navigation. Their display does not imply authorization, affiliation or endorsement. Availability is confirmed per quotation.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles