CC1310F128RGZR - Texas Instruments Sirkuit Terpadu RF

In stock
SKU: CC1310F128RGZR-QFN-VQFN-EP
Regular price $3.07
Setelah Anda melakukan pemesanan, tim penjualan kami akan mengirimkan konfirmasi tertulis mengenai harga akhir, biaya pengiriman, dan perkiraan waktu pengiriman. Bea masuk, pajak, biaya perantara, dan biaya tujuan lainnya adalah tanggung jawab pelanggan. Bila diperlukan, kami dapat membantu dengan ketersediaan informasi produk dan dokumen bea cukai untuk deklarasi impor; bea cukai akhir dan pembayaran tetap menjadi tanggung jawab pelanggan.

CC1310F128RGZR

14dBm 12.9mA~22.6mA ISM Umum < 1GHz 5.5mA 1 1 DSSS, GFSK 300MHz 3.8V 930MHz 50Kbps I²C, I²S, JTAG, SPI, UART 5.4mA 124dBm 1.8V QFN, VQFN(EP) pemasangan permukaan 1mm(tinggi)

Stok Tersedia: 8QFN,VQFN(EP)Aktif
ProdusenTexas Instruments
PaketQFN,VQFN(EP)
Stok8
Kemasan Standar2500

Harga & Pemesanan

Harga Satuan$2.8547

Informasi Dasar

Produsen Texas Instruments
Nomor Bagian Produsen CC1310F128RGZR
Kategori IC Sirkuit Terpadu RF
Paket QFN,VQFN(EP)
Status Siklus Hidup Aktif

Atribut Teknis

Dapat Diprogram Belum Diverifikasi
Tipe TxRx + MCU
Keluarga/Standar RF ISM Umum < 1GHz
Protokol -
Modulasi DSSS, GFSK
Frekuensi 300MHz ~ 930MHz
Kecepatan Data (Maks) 50kbps
Daya - Keluaran 14dBm
Sensitivitas -124dBm
Ukuran Memori 128kB Flash, 20kB RAM
Antarmuka Serial I2C, I2S, JTAG, SPI, UART
GPIO 30
Tegangan - Pasokan 1.8V ~ 3.8V
Arus - Menerima 5.5mA
Arus - Memancarkan 12.9mA ~ 22.6mA
Suhu Operasi -40 degC ~ 85 degC
Jenis Pemasangan Pemasangan Permukaan
Paket / Kasus 48-VFQFN Exposed Pad
Paket Perangkat Pemasok 48-VQFN (7x7)

Persediaan dan harga diperbarui secara berkala. Data teknis disediakan untuk referensi teknik.

Lembar data

Unduh PDF

MANUFACTURER ACCESS

Manufacturers We Source

Browse frequently requested semiconductor and electronic component manufacturers, then search the catalog or submit an RFQ for the exact part you need.

From the desk

Recent Articles

Market signals, technical notes, and practical sourcing guidance for semiconductor procurement.

View all articles